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      無錫晟澤理化器械有限公司
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      半導體高低溫測試

      主要用于半導體測試中的溫度測試模擬,具有寬溫度定向和高溫升降,溫度范圍-92℃~250℃,適合各種測試要求。
      在用于惡劣環境的半導體電子元件的制造中,IC封裝組裝和工程和生產的測試階段包括在溫度(-85℃至+ 250℃)下的電子冷熱測試和其他環境測試模擬。
      這些半導體器件和電子產品一旦投入實際應用,就可以暴露在極端環境條件下,滿足苛刻的軍事和電信可靠性標準。

      元器件高低溫測試
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