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      芯片溫度控制的元器件怎么用萬用表檢測

      芯片溫度控制裝置是用于芯片、半導體、集成電路等元器件中的,那么,對于這些常用的元器件怎么用萬用表進行檢測呢?

      芯片溫度控制

      電子元器件的變壓器、偏轉線圈、補償電感等,由于導線繞制的感性元件阻值都很低,對它們的短路性故障很難測出來;開路性故障則取決于測試該元件二端的阻值應大于本身的正常值(需要事先了解其阻值或找一個同型號元件測試后比較)。測試正反向電阻應符合PN結規律,萬用表值低阻擋(R×10或R×100),當二極管與電容并聯時,由于電容器充放電作用,測試時需稍等片刻,待其阻值穩定后才能正確判斷;但當二極管與電感線圈并聯時,由于電感線圈電阻值很小,這是在路測試是無效的。

      測試三極管電子元器件的e-b或b-c極間的正反向電阻依然要符合PN結的測試規律,而測量e-c之間的正反向電阻值差別要小一些。測大功率管用R×100或R×1K擋。應注意的是,晶體管在路情況比較復雜,而只有PN結確實擊穿或斷路時,才能見分曉,當兩極間并聯元件阻值過低,則需斷開一極檢測才有效。

      測試電子元器件電阻阻值所測結果必須小于或等于該電阻的標稱值(從電阻外觀看出或看原理圖上的標志),如果大于標稱值說明該電阻已損壞。若是電位器或半可調電阻,可用萬用表一端接電位器動點,另一端接任一點,轉動軸柄,其阻值應該有變化,測出的阻值也應該小于或等于標稱電阻值。

      如果電容二端無短路性元件(如電感線圈等),其二端的阻值應大于零,并且測容量較大的電容時應有充放電現象,否則說明電容已擊穿或失效。

      元器件在利用萬用表進行檢測可以判斷其好壞,這樣可以提高元器件的檢修速度,也有利于芯片溫度控制裝設備在測試工作中的有效運行。(注:本來部分內容來百度學術相關論文,如果侵權,請及時聯系我們進行刪除,謝謝。)

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